| 器件图 |
型号/料号 |
品牌/制造商 |
类目 |
参数 |
说明 |
 |
MARS-DEMO3-MIPI-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 MARS DEMO3-MIPI/ SERIAL A |
 |
ARRAYX-BOB3-144P-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayX; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayC-30035-144P-PCB; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-ARRAY 3MM 12X12 BOB |
 |
ARRAYX-BOB6-64S-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayX; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayC-60035-64S-PCB, ArrayJ-60035-64S-PCB; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C/J-ARRAY 6MM 8X8 SUM BOB |
 |
ARRAYJ-BOB3-64P-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayJ; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayJ-300XX-64P, ArrayJ-40035-64P; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-ARRAY 3MM 8X8 BOB |
 |
ARRAYX-BOB6-64P-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayX; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayC-60035-64P-PCB, ArrayJ-60035-64P-PCB; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C/J-ARRAY 6MM 8X8 BOB |
 |
MICROFC-30035-SMT-TR1 |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Optical Detectors and Sensors; 标准包装数量:1; 产品类型:Photodiodes; 湿度敏感性:Yes; 商标:ON Semiconductor; 封装:Cut Tape; 系列:C-SERIES SIPM; 最大工作温度:+ 85 C; 最小工作温度:- 40 C; 上升时间:0.6 ns; 暗电流:154 nA; 峰值波长:420 nm; 安装风格:SMD/SMT; 产品:Photodiode Arrays; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光电二极管 C-SERIES 3MM 35U MLP |
 |
MICROFC-SMTPA-60035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-60035-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 6MM 35U SMTPA |
 |
MICROFJ-60035-TSV-TR1 |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Optical Detectors and Sensors; 标准包装数量:1; 产品类型:Photodiodes; 湿度敏感性:Yes; 商标:ON Semiconductor; 封装:Cut Tape; 系列:J-SERIES SIPM; 最大工作温度:+ 85 C; 最小工作温度:- 40 C; 上升时间:250 ps; 暗电流:7.5 uA; 峰值波长:420 nm; 安装风格:SMD/SMT; 产品:Photodiode Arrays; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光电二极管 J-SERIES 6MM 35U TSV |
|
AR0230CSSC12SUEAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Serial; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0230; 描述/功能:AR0230CS Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:AR0230CS; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 2 MP 1/3 CIS 12 DEG IBG |
|
AS0140AT2C00XUSMH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工具用于评估:AR1337CSSC32SMD20; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 1MP 1/4 CIS SOC RGB IE |
 |
MT9V114EBKSTC5H-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工作电源电压:1.8 V, 2.8 V; 工具用于评估:MT9V114EBKSTC5H; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 VGA 1/13 SOC HB |
|
MT9J003I12STCVH-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Serial, Parallel, HiSPi; 商标:ON Semiconductor; 描述/功能:MT9J003 Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:MT9J003; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 10 MP 1/2.3 CIS HB |
|
MT9T112PACSTCH-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Serial, Parallel, MIPI; 商标:ON Semiconductor; 描述/功能:MT9D112 Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:MT9D112; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 3 MP 1/4 SOC HB |
 |
AR0135AT2C00XUEAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Serial, Parallel; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0135; 描述/功能:AR0135AT Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:AR0135AT; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 1.2 MP 1/3 CIS RGB 0 DE |
|
AR0130CSSM00SPCAH-S213A-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0130; 描述/功能:1.2 MP Sunex DSL213A 1/3 inch iLCC CIS headboard; 封装:Bulk; 工作电源电压:5 V; 工具用于评估:MT9M031, MT9M033; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 1.2 MP 1/3 CIS HB |
|
AR1337CSSC32SMFAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工具用于评估:AR1337CSSC32SMD20; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 13 MP 1/3.2 CIS HB |
 |
AR0237CSSC00SUEAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0237; 封装:Bulk; 工作电源电压:1.8 V; 工具用于评估:AR0237; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 2MP 1/3 CIS HB |
|
MT9V013PACSTCHP-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工具用于评估:MT9V013PACSTCHP; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 VGA 1/11 CIS HB |
 |
AR0135CS2C00SUEAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0135; 封装:Bulk; 工作电源电压:1.8 V; 工具用于评估:AR0135; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 1.2MP 1/3 CIS COLOR |
|
MT9V013PACSTCHM-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Serial, Parallel, MIPI; 商标:ON Semiconductor; 描述/功能:MT9V013 Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:MT9V013; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 VGA 1/11 CIS HB |
|
NOIP1SN0480A-HEAD-BD-A-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:Parallel, LVDS; 商标:ON Semiconductor; 系列:EVBUM2294; 描述/功能:NOIP1SN0480A Head Board; 封装:Bulk; 工具用于评估:NOIP1SN0480A; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 CMOS EVAL KIT |
 |
NOIP-84PIN-HEAD-BD-A-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 接口类型:USB; 商标:ON Semiconductor; 描述/功能:Headboard only, image sensor not included; 封装:Bulk; 工作电源电压:12 V; 工具用于评估:NOIP1FN2000A, NOIP1FN5000A, NOIP1SE2000A, NOIP1SE5000A, NOIP1SN2000A, NOIP1SN5000A; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 CMOS EVAL KIT |
|
AR0431CSSC14SMRAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0431; 封装:Bulk; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 4 MP 1/3 CIS 14 DEG |
|
ARX3A0CSSM00SMKAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工作电源电压:-; 工具用于评估:ARX3A0; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 0.3MP 1/10.3 CIS SOC |
 |
ARRAYJ-60035-64P-PCB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Optical Detectors and Sensors; 标准包装数量:1; 产品类型:Photodiodes; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 系列:ArrayJ; 最大工作温度:+ 85 C; 最小工作温度:- 40 C; 上升时间:250 ps; 暗电流:7.5 uA; 峰值波长:420 nm; 安装风格:PCB Mount; 产品:Photodiode Arrays; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光电二极管 J-ARRAY 6MM 35U 8X8 |
|
MICROFC-60035-SMT-TR1 |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Optical Detectors and Sensors; 标准包装数量:1; 产品类型:Photodiodes; 湿度敏感性:Yes; 商标:ON Semiconductor; 封装:Cut Tape; 系列:C-SERIES SIPM; 最大工作温度:+ 85 C; 最小工作温度:- 40 C; 上升时间:1 ns; 暗电流:618 nA; 峰值波长:420 nm; 安装风格:SMD/SMT; 产品:Photodiode Arrays; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光电二极管 C-SERIES 6MM 35U MLP |
|
MICROFJ-30035-TSV-TR |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Optical Detectors and Sensors; 标准包装数量:3000; 产品类型:Photodiodes; 湿度敏感性:Yes; 商标:ON Semiconductor; 封装:Reel; 封装:Cut Tape; 系列:J-SERIES SIPM; 最大工作温度:+ 85 C; 最小工作温度:- 40 C; 上升时间:110 ps; 暗电流:1.9 uA; 峰值波长:420 nm; 安装风格:SMD/SMT; 产品:Photodiode Arrays; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光电二极管 J-SERIES 3MM 35U TSV |
 |
MICRORB-SMTPA-10035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:RB-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroRB-10035-MLP; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 RB-SERIES 1MM 35U SMTPA |
 |
MICRORB-SMA-10035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:RB-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroRB-10035-MLP; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 RB-SERIES 1MM 35U SMA |
 |
MICROFC-SMA-10010-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-10010-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 1MM 10U SMA |
 |
MICROFJ-SMA-60035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-60035-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 6MM 35U SMA |
 |
MICROFC-SMA-30035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-30035-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 3MM 35U SMA |
 |
MICROFC-SMA-60035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-60035-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 6MM 35U SMA |
 |
MICROFJ-SMA-30035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-30035-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 3MM 35U SMA |
 |
MICROFJ-SMTPA-30035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-30035-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 3MM 35U SMTPA |
 |
MICROFJ-SMA-30020-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-30020-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 3MM 20U SMA |
 |
MICROFC-SMTPA-30050-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-30050-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 3MM 50U SMTPA |
 |
MICROFC-SMTPA-10010-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-10010-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 1MM 10U SMTPA |
|
AR0221SR2C00SUEAH3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:AR0221; 封装:Bulk; 工具用于评估:AR0221SR2C00SUEA; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 2MP 1/2 CIS 0 DEG |
 |
MICROFJ-SMA-40035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-40035-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 4MM 35U SMA |
 |
ARRAYX-BOB3-16P-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayX; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayC-30035-16P-PCB; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-ARRAY 3MM 4X4 BOB |
 |
ARRAYJ-BOB3-16P-GEVK |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:ArrayJ; 封装:Bulk; 工具用于评估:ArrayJ-300XX-16P; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Kits; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-ARRAY 3MM 4X4 BOB |
 |
MICROFC-SMTPA-30020-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-30020-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 3MM 20U SMTPA |
 |
MICROFJ-SMTPA-30020-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:J-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFJ-30020-TSV; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 J-SERIES 3MM 20U SMTPA |
 |
MICROFC-SMA-10035-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-10035-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 1MM 35U SMA |
 |
MICROFC-SMA-30050-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-30050-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 3MM 50U SMA |
|
MARS1-AR0220AT3-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 最小工作温度:- 40 C; 最大工作温度:+ 105 C; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工作电源电压:1.8 V, 2.8 V; 工具用于评估:AR0220AT3; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 MARS AR220AT IBGA |
 |
MARS1-AR0220AT3R-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 最小工作温度:- 40 C; 最大工作温度:+ 105 C; 商标:ON Semiconductor; 封装:Bulk; 工作电源电压:1.8 V, 2.8 V; 工具用于评估:AR0220AT3R; 类型:Image Sensor; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 MARS AR220AT IBGA |
 |
MICROFC-SMA-10020-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-10020-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 1MM 20U SMA |
 |
MICROFC-SMA-30020-GEVB |
ON Semiconductor |
光学探测器和传感器 |
商标名:SensL; 子类别:Development Tools; 标准包装数量:1; 产品类型:Optical Sensor Development Tools; 商标:ON Semiconductor; 系列:C-SERIES SIPM; 封装:Bulk; 工具用于评估:MicroFC-30020-SMT; 类型:Silicon Photomultiplier; 产品:Evaluation Boards; RoHS:Y; 制造商:ON Semiconductor; |
光学传感器开发工具 C-SERIES 3MM 20U SMA |
QQ客服
